扫描电子显微镜

扫描电子显微镜

仪器型号

S-3400N

制造厂商

日本Hitachi公司

购置时间

2008-12-30

联系人

朱锐

联系方式

15152816220

主要技术指标

1.高真空分辨率: 二次电子像3.0nm（30kV）,10.0nm(3kV); 背散射电子像4.0nm(30kV)

2.低真空分辨率：背散射电子像4.0nm(30kV)

3.放大倍数：5～300000倍,连续可调

4.加速电压：0.3～30kV

5.主要附件：X-射线能量色散谱仪，简称能谱仪(EDS) ，探测元素范围Be4-U92。

主要功能

1.材料表面结构分析：块状金属、非金属固体材料、纤维、薄膜的表面或断面微区形貌；2.微粒或纤维形状的观察及尺寸分析；3.纳米材料粒径测试和形貌观察。

应用范围

广泛应用于各种材料（陶瓷、半导体、催化剂、地质矿物、高分子和复合材料等）的微观形貌表征。